ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Новый рентгеноинтерферометрический метод исследования изображений несовершенств в материалах

Дремян, Г. Р. (2005) Новый рентгеноинтерферометрический метод исследования изображений несовершенств в материалах. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 58 (1). pp. 54-58. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
799Kb

Abstract

На основе кратных рентгеновских интерферометров предложен и опробован способ исследования полей деформации кристаллов. Показано, что двукратный рентгеновский интерферометр позволяет выявить линии сегрегации, полосы смещения и муаровые картины,обусловленные несовершенствами исследуемых кристаллических материалов. Ռենտգենյան բազմապատիկ ինտերֆերոմետրերի հիման վրա առաջարկվել և փորձարկվել է բյուրեղների մեջ դեֆորմացիոն դաշտերի ուսումնասիրության նոր եղանակ: Ցույց է տրվել, որ կրկնապատիկ ռենտգենյան ինտերֆերոմետրը թույլ է տալիս բացահայտել ուսումնասիրվող բյուրեղական նյութերի անկատարելություններով պայմանավորված անմիասեռության և շեղման գծերը, մուարի պատկերները: A method for investigation of deformation fields in crystals based on multiple X-ray interferometers is suggested and tested. It is shown that a double X-ray interferometer permits to reveal segregation lines, shift bands and Moire patterns arising due to imperfections of crystalline materials under investigation.

Item Type:Article
Additional Information:Նյութերում անկատարությունների պատկերների ուսումնասիրության նոր ռենտգենոինտերֆերոմետրիկ մեթոդ; A new X-ray interferometric method for investigation of imperfection images in materials
Uncontrolled Keywords:Դրմեյան Հ. Ռ., Drmeyan H. R., муаровые топограммы, двукратный интерферометр, поле деформации кристаллов
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:738
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:07 Apr 2011 10:28
Last Modified:31 Jan 2020 19:01

Repository Staff Only: item control page