ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Признаки возникновения рентгеновских муаровых картин в кристаллических системах

Абоян, А. О. and Агбалян, С. Г. (2005) Признаки возникновения рентгеновских муаровых картин в кристаллических системах. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 58 (1). pp. 39-46. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
745Kb

Abstract

Разработана методика графического исследования условий возникновения рентгеновских муаровых картин и их наблюдения в кристаллических системах. Определены признаки возникновения муаровых картин при первичных плоских волнах. Показано, что для получения муаровых картин необходимо облучать отражающие плоскости последнего кристалла системы с обеих сторон в угловой области отражения под углами, отличающимися от точного угла Брэгга. Մշակվել է բյուրեղական համակարգերում ռենտգենյան մուարի պատկերների առաջացման և դիտման պայմանների գրաֆիկական հետազոտությունների մեթոդ։ Որոշվել են մուարի պատկերների առաջացման հայտանիշները առաջնային հարթ ալիքների դեպքում։ Ցույց է տրված, որ մուարի պատկերներ ստանալու համար անհրաժեշտ է համակարգի վերջին բյուրեղի անդրադարձնող հարթությունները երկու կողմից ճառագայթել անդրադարձման անկյունային տիրույթի Բրեգի ճշգրիտ անկյունից տարբերվող անկյունների տակ: A method for graphical investigation of the condition for arising and observing the X-ray Moire patterns in crystalline systems is developed. Indications for arising Moire patterns at primary plane waves are defined. It is shown that to obtain Moire patterns, it is necessary to radiate the reflecting planes of the last crystalline of the system on two sides at different angles from the Breg’s accurate angle of the reflection angular range.

Item Type:Article
Additional Information:Բյուրեղական համակարգերում ռենտգենյան մուարի պատկերների առաջացման հայտանիշները; Indications of arising x-ray moire patterns in crystalline systems
Uncontrolled Keywords:Աբոյան Ա. Հ., Աղբալյան Ս. Գ., Aboyan A. H., Aghbalyan S. G., муар, двухкристальный и трехкристальный интерферометры, несовершенство кристаллов, ротационные и дилатационные искажения, отражающие плоскости, кинематическоe и динамическоe рассеяние, угол Брэгга
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:736
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:06 Apr 2011 09:54
Last Modified:04 Feb 2020 19:37

Repository Staff Only: item control page