ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Некоторые вопросы оценки качества входного контроля цифровых интегральных схем

Осипян, М. М. (2005) Некоторые вопросы оценки качества входного контроля цифровых интегральных схем. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 58 (1). pp. 154-160. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
598Kb

Abstract

Проведено исследование системной методологии и задач статистической оптимизации микросхем. Дано обоснование концепции микроконтроллерной автоматизированной контрольно-измерительной аппаратуры входного контроля цифровых интегральных схем с последующей оценкой эффективности ее функционирования. Предложена модель процесса тестирования и получены зависимости вероятности обнаружения ошибок от параметров системы испытаний и продолжительности испытаний от оптимизации тестовых последовательностей. Միկրոսխեմաների համակարգչային մեթոդաբանության ու վիճակագրական օպտիմալացման խնդիրների ուսումնասիրման արդյունքում hիմնավորված է ԹԻՍ-ի մուտքային հսկման միկրոկոնտրոլերային ԱՀՉՀ-ի մոդելի մտահղացումը` գործունեության արդյունավետության գնահատականով: Մշակված է ԹԻՍ-ի տեստավորման գործընթացի մոդել: An investigation of system methodology and statistical optimization tasks of the microcircuits is carried out.The conception of the microcontroller tester for digital circuits input control is proved. A model of the digital circuit testing process is proposed. Dependences on debugging the system testing parameters and testing durability of optimization testing sequences are obtained.

Item Type:Article
Additional Information:ԹԻՍ-ի մուտքային հսկման որակի գնահատականի որոշ հարցեր; Some problems on quality estimation for digital circuit input control
Uncontrolled Keywords:Հովսեփյան Մ. Մ., Hovsepyan M. M., входной контроль цифровых интегральных схем, автоматизированная контрольно-измерительная аппаратура, микроконтроллер, микроконтроллерная система, статистическая оптимизация микросхем, «тест-маршрут», автоматизированное рабочее место
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:734
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:07 Apr 2011 10:39
Last Modified:31 Jan 2020 18:32

Repository Staff Only: item control page