ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Functional testing scenarios for embedded memories in automotive SoC

Sargsyan ], D. G. (2019) Functional testing scenarios for embedded memories in automotive SoC. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 72 (2). pp. 246-252. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
389Kb

Abstract

Periodic testing of embedded memory devices in modern system-on-chips (SoC) is becoming an increasingly common requirement. Automotive is one of the largest semiconductor markets with the requirement of in-filed testing of embedded memories. Արդի բյուրեղի վրա համակարգերում ներկառուցված հիշող սարքերի պարբերական թեստավորումը դառնում է հիմնական անհրաժեշտություններից մեկը: Ավտոմոբիլային համակարգերը դարձել են կիսահաղորդիչներ օգտագործող ամենամեծ շուկաներից մեկը, որոնք պահանջում են ներդրված հիշող սարքերի թեստավորում ֆունկցիոնալ աշխատանքի ժամանակ։ Периодическое тестирование устройств памяти, встроенных в современные системы на кристалле (СнК), становится все более необходимым требованием. Автомобильные системы являются одним из крупнейших рынков полупроводников с требованием тестирования встроенной памяти в реальном времени.

Item Type:Article
Additional Information:Ներդրված հիշող սարքերի ֆունկցիոնալ թեստավորման սցենարներ ավտոմոբիլային բյուրեղում; Сценарии функционального тестирования устройств памяти, встроенных в системы на кристалле автомобильных систем
Uncontrolled Keywords:Սարգսյան Դ. Գ., Саркисян Д. Г., built-in self-test, in-field test, memory test, automotive
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:4274
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:25 Sep 2019 18:23
Last Modified:30 Apr 2020 21:32

Repository Staff Only: item control page