ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Verification of the memory test and diagnosis flow implementation in software post-silicon analysis automation tools

Hayrapetyan, D. L. (2019) Verification of the memory test and diagnosis flow implementation in software post-silicon analysis automation tools. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 72 (2). pp. 235-245. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
434Kb

Abstract

With rapidly increasing density and capacity of nanoscale memory devices embedded in modern system-on-chips (SoC), new design problems are being introduced, as well as the requirements are strengthened towards test and diagnosis for achieving higher quality and increased yield. This leads to modification of existing and/or development of new memory test, fault detection, localization and classification flows that are being implemented in various software post-silicon analysis automation tools. In this paper, an approach for verification of those tools is proposed. Արդի բյուրեղի վրա համակարգերում (SoC) ներկառուցված նանոչափական հիշող սարքերի արագորեն աճող խտությամբ և հզորությամբ պայմանավորված՝ ի հայտ են գալիս նախագծման նոր խնդիրներ, ինչպես նաև, բարձր որակը և արտադրողականությունը ապահովվելու նպատակով, խստացվում են պահանջները թեստավորման և արատորոշման նկատմամբ։ Սա հանգեցնում է հետսիլիկոնային վերլուծության ավտոմանտացման ծրագրային տարբեր գործիքներում իրականցված հիշողության թեստավորման, սխալների հայտնաբերման, տեղայնացման և դասակարգման առկա գործընթացների փոփոխման և/կամ նորերի ստեղծման անհրաժեշտությանը։ Այս հոդվածում առաջարկվում է այդ գործիքների ստուգման մոտեցում: Резкое увеличение плотности и мощности нанометровых устройств памяти, встроенных в системы на кристалле (СнК), приводит к новым проблемам проектирования, а также ужесточению требований к тестированию и диагностированию. Это вызывает необходимость модификации имеющихся или реализации новых процессов тестирования, нахождения, локализации и классификации ошибок в программных инструментах автоматического постсиликонового анализа. В статье предлагается подход к верификации этих инструментов.

Item Type:Article
Additional Information:Հետսիլիկոնային վերլուծության ավտոմատացման ծրագրային գործիքներում հիշողության թեստավորման և արատորոշման գործընթացների իրականացման ստուգումը; Верификация реализации процессов тестирования и диагностирования памяти в программных инструментах автоматического постсиликонового анализа
Uncontrolled Keywords:Հայրապետյան Դ. Լ., Айрапетян Д. Л., verification, Memory test, Memory diagnostics, Memory faults, Test pattern
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:4273
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:25 Sep 2019 17:59
Last Modified:08 Oct 2019 15:22

Repository Staff Only: item control page