ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Исследование температурных характеристик многоистоковой ферроэлектрической ячейки памяти

Петросян, О. А. and Траваджян, Л. М. and Буниатян, В. В. (2012) Исследование температурных характеристик многоистоковой ферроэлектрической ячейки памяти. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 65 (3). pp. 304-312. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
592Kb

Abstract

Исследованы характеристики остаточной поляризации и логических уровней напряжения считывания многоистоковой ферроэлектрической ячейки памяти (ЯП) при изменении температуры в широком диапазоне. Проведено моделирование ЯПс использованием программного пакетаHSPICE. Показано, что в предложенной нами многоистоковой ЯП имеется достаточный резерв для уменьшения площади ферроэлектрического конденсатора. Ուսումնասիրվել են հիշող տարրի մնացորդային բևեռացման և ընթերցման լարումների բնութագրերը ջերմաստիճանի փոփոխման լայն միջակայքում: Կատարվել է հիշող տարրի ջերմաստիճանային բնութագրերի մոդելավորում HSPICE ծրագրային փաթեթի միջոցով: Ցույց է տրված, որ առաջարկված հիշող տարրում դեռևս գոյություն ունի կոնդենսատորի մակերեսի փոքրացման պաշար: The characteristics of the remanent polarization and the logic levels of sensing voltages for multi source ferroelectric memory cell are investigated in a wide range of temperature. The simulation of the memory cell using the software HSPICE is performed. It is shown that our proposed memory cell has a sufficient reserve to reduce the area of ferroelectric capacitor.

Item Type:Article
Additional Information:Բազմաակունքային ֆերոէլեկտրական հիշող տարրի ջերմաստիճանային բնութագրերի ուսումնասիրությունը / Օ. Հ. Պետրոսյան, Լ. Մ. Տրավաջյան, Վ. Վ. Բունիաթյան։ Investigation on temperature characteristics of ferroelectric multisource memory cell / O. H. Petrosyan, L. M. Travajyan, V. V. Buniatyan.
Uncontrolled Keywords:масштабирование, ячейка памяти, поляризация, температура, моделирование, коэрцитивное напряжение, битовая линия
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:3805
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:20 May 2013 12:38
Last Modified:12 Mar 2014 12:39

Repository Staff Only: item control page