ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Исследование температурных характеристик многоистоковой ферроэлектрической ячейки памяти

Петросян, О. А. and Траваджян, Л. М. and Буниатян, В. В. (2012) Исследование температурных характеристик многоистоковой ферроэлектрической ячейки памяти. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 65 (3). pp. 304-312. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
592Kb

Abstract

Исследованы характеристики остаточной поляризации и логических уровней напряжения считывания многоистоковой ферроэлектрической ячейки памяти (ЯП) при изменении температуры в широком диапазоне. Проведено моделирование ЯПс использованием программного пакетаHSPICE. Ուսումնասիրվել են հիշող տարրի մնացորդային բևեռացման և ընթերցման լարումների բնութագրերը ջերմաստիճանի փոփոխման լայն միջակայքում: Կատարվել է հիշող տարրի ջերմաստիճանային բնութագրերի մոդելավորում HSPICE ծրագրային փաթեթի միջոցով: The characteristics of the remanent polarization and the logic levels of sensing voltages for multi source ferroelectric memory cell are investigated in a wide range of temperature. The simulation of the memory cell using the software HSPICE is performed.

Item Type:Article
Additional Information:Բազմաակունքային ֆերոէլեկտրական հիշող տարրի ջերմաստիճանային բնութագրերի ուսումնասիրությունը; Investigation on temperature characteristics of ferroelectric multisource memory cell
Uncontrolled Keywords:Պետրոսյան Օ. Հ., Տրավաջյան Լ. Մ., Բունիաթյան Վ. Վ., Petrosyan O. H., Travajyan L. M., Buniatyan V. V., масштабирование, ячейка памяти, поляризация, температура, моделирование, коэрцитивное напряжение, битовая линия
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:3805
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:20 May 2013 12:38
Last Modified:12 Apr 2020 23:30

Repository Staff Only: item control page