ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Рентгеновская топография шагового сканирования

Абоян, А. О. (2003) Рентгеновская топография шагового сканирования. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 56 (2). pp. 236-243. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
409Kb

Abstract

Предложен метод шагового сканирования, свободный от всех недостатков, присущих известным методам проекционного топографирования. Данный метод регистрирует рентгенодифракционное изображение с большим разрешением и без искажений. Առաջարկված է պրոյեկցիոն տեղագրության հայտնի մեթոդներին բնորոշ բոլոր թերություններից զերծ քայլային տեսածրման մեթոդ, որը ռենտգենադիֆրակցիոն պատկերը գրանցում է մեծ լուծաչափությամբ և առանց աղավաղումների: A method of step-by-step scanning , free from all the deficiencies inherent in the known methods of projection topography is proposed. The proposed method allows one to detect high resolution, undistored X-ray diffraction pictures.

Item Type:Article
Additional Information:Քայլային տեսածրման ռենտգենյան տեղագրություն; X-ray step scanning topography
Uncontrolled Keywords:Աբոյան Ա. Հ., Aboyan A. H., кристалл кремния, интерферометр, муар, топограмма, несовершенство кристаллов, сканирование, кинематическое и динамическое рассеяние
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:2394
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:23 Jul 2011 22:39
Last Modified:05 Dec 2019 19:07

Repository Staff Only: item control page