ՀՀ ԳԱԱ եւ ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В КРИСТАЛЛАХ С УЧЕТОМ ДЛИТЕЛЬНОСТИ КОГЕРЕНТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИСТОЧНИКА

Абоян, А. О. (2011) ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В КРИСТАЛЛАХ С УЧЕТОМ ДЛИТЕЛЬНОСТИ КОГЕРЕНТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИСТОЧНИКА. ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Տեխնիկական գիտություններ, 64 (1). pp. 22-30. ISSN 0002-306X

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
475Kb

Abstract

Исследована дифракция рентгеновских лучей в кристаллах с учетом длительности когерентного излучения. Показано, что для точного определения ширины и интенсивности дифракционного максимума необходимо учесть время продолжительности когерентного излучения. Ширина и интенсивность дифракционного максимума зависят от числа отражающих плоскостей, одновременно участвующих в интерференции в точке наблюдения, а число этих плоскостей в основном зависит от длительности когерентного излучения.

Item Type:Article
Additional Information:ՌԵՆՏԳԵՆՅԱՆ ՃԱՌԱԳԱՅԹՆԵՐԻ ԴԻՖՐԱԿՑԻԱՆ ԲՅՈՒՐԵՂՆԵՐՈՒՄ ՌԵՆՏԳԵՆՅԱՆ ԱՂԲՅՈՒՐԻ ԿՈՀԵՐԵՆՏ ՃԱՌԱԳԱՅԹՄԱՆ ՏԵՎՈՂՈՒԹՅԱՆ ՀԱՇՎԱՌՄԱՄԲ / Ա. Հ. ԱԲՈՅԱՆ։ X - RAY DIFFRACTION IN CRYSTALS ALLOWING FOR COHERENT X - RAY SOURCE RADIATION DURATION / А. H. АBOYAN.
Uncontrolled Keywords:когерентность, интерференция, длительность когерентности, цуг волн, интенсив¬ность, высота и ширина дифракционного максимума.
Subjects:T Technology > T Technology (General)
ID Code:2093
Deposited By:Fundamental Scientific Library
Deposited On:17 Jun 2011 10:09
Last Modified:12 Mar 2014 12:39

Repository Staff Only: item control page